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半導體測試設備領導者愛德萬測試(Advantest)全新發表專為

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高效能通用快閃儲存(UFS)元件與PCIe BGA固態硬碟(SSD)所設計的低成本測試解決方案T5851系統,將可滿足智慧型手機、平板電腦、超可攜式產品等低功耗、行動應用市場對於記憶體IC的強勁需求。

愛德萬表示,T5851測試系統分別提供了量產機型與工程開發機型,讓客戶可隨需彈性運用於可靠性測試、品質檢驗測試、測試程式開發測試等用途,也能在搭載自動化元件分類機(如愛德萬測試的M6242分類機)的架構下,應用於量產環境。T5851是一套完全整合式的系統層級測試解決方案,不僅提供多種協定支援,且具備tester-per-DUT架構與專有的硬體加速器,使測試時間領先業界。T5851經實證的測試架構,與旗下固態硬碟測試解決方案MPT3000產品系列一致,並採用與T5800系列產品相同的多功能平台與FutureSuite軟體,可讓客戶降低降低投資成本與建置風險。此外,其系統設定及效能可隨任何待測物調整而達到最佳表現,同時提供模組化升級能力以提升客戶未來投資報酬。

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此外,此系統可隨需延展的大電流可編程電源(PPS)支援,能滿足所有不同電流與下一代元件的需求,加上其穩健模組設計與水冷功能,為T5851創造出絕佳可靠性,量產型系統預計於2016年第一季開始出貨。

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